高低溫試驗(yàn)機(jī)本產(chǎn)品適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在高、低溫環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本系列試驗(yàn)箱性能指標(biāo)均達(dá)到國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB 10589-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件，適用于按GB/T 2423.1《電工電子產(chǎn)品的基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法》對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行低溫試驗(yàn)。

高低溫試驗(yàn)箱:GDW/YH-150L 
工作室尺寸：500×500×600
 
溫度范圍：-20/-40/-60/-70℃～+100/150℃                                 
溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃                      
溫度均勻度：≤±2℃
降溫速率：0.7～1℃/min?。蛰d）
升溫速率：2～3℃/min?。蛰d）
噪音（dB）：≤65
電源：AC220/380V  50Hz 
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93(IEC68-2-30)
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法 GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9-1986《軍用設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》 GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》 GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》
GJB367.2-1987《軍用通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411 濕熱試驗(yàn) GJB360.8-87(MIL-STD-202f)高溫壽命試驗(yàn) GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》 GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》 GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》 GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》